透射電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)

        掃描透射電子顯微鏡是在 1950 年代開發(fā)的。 TEM 不是使用光，而是使用電子來聚焦光束，該光束通過樣品發(fā)送以形成圖像。透射電子顯微鏡通過光學(xué)顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是可以產(chǎn)生更大的放大倍數(shù)，而光學(xué)鏡不能顯示詳細(xì)信息。
        
        顯微鏡的工作原理
        透射電子顯微鏡的工作原理類似于光學(xué)顯微鏡，它們使用電子束代替光或光子。電子槍就像光學(xué)顯微鏡中的光源，是電子的源頭，發(fā)揮作用。帶負(fù)電的電子被吸引到陽極，并且環(huán)形裝置帶有正電荷。當(dāng)電子流穿過顯微鏡內(nèi)的真空時(shí)，磁透鏡會(huì)聚焦它們。這些聚焦的電子撞擊載物臺(tái)上的樣品并反射樣品以在此過程中產(chǎn)生 X 射線。返回或散射的樣本、電子和 X 射線被轉(zhuǎn)換成信號(hào)并發(fā)送到電視屏幕上科學(xué)家意見的圖像。
        
        透射電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)
        透射電子顯微鏡光學(xué)鏡和薄片樣品。問題是，它比光學(xué)顯微鏡更大程度地放大了樣品。可以放大 10,000 倍或更多，這使科學(xué)家能夠看到非常小的結(jié)構(gòu)。對(duì)于生物學(xué)家來說，線粒體和細(xì)胞器、細(xì)胞等內(nèi)部操作是清晰可見的。 TEM 樣品的晶體結(jié)構(gòu)提供了出色的分辨率，甚至可以顯示樣品內(nèi)的原子排列。
        
        透射電子顯微鏡的局限性
        透射電子顯微鏡需要真空室中的樣品。由于這一要求，顯微鏡可用于觀察活體標(biāo)本，如原生動(dòng)物。一些精致的樣品也可能被電子束損壞，必須先使用化學(xué)染色劑或涂層來保護(hù)它們。這種處理有時(shí)會(huì)破壞標(biāo)本。
        
        普通顯微鏡使用聚焦光來放大圖像，但它們具有大約 1000 倍放大倍率的內(nèi)置物理限制。這個(gè)極限是在 1930 年代達(dá)到的，但科學(xué)家們希望增加他們的放大潛力，讓他們能夠探索細(xì)胞的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和其他微結(jié)構(gòu)。
         1931 年，最大的 Noel 和 Ernstruska 開發(fā)了*透射電子顯微鏡。由于顯微鏡中必要電子儀器的復(fù)雜性，直到 1960 年代中期，第一臺(tái)商用透射電子顯微鏡才出現(xiàn)在科學(xué)家身上。